OPTACOM輪廓粗糙度儀測(cè)量原理為直角坐標(biāo)測(cè)量法，即通過X軸、Z1軸傳感器，測(cè)繪出被測(cè)零件的表面輪廓的坐標(biāo)點(diǎn)，通過電器組件，將傳感器所測(cè)量的坐標(biāo)點(diǎn)數(shù)據(jù)傳輸?shù)缴衔籔C機(jī)，軟件對(duì)所采集的原始坐標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)學(xué)運(yùn)算處理，標(biāo)注所需的工程測(cè)量項(xiàng)目。
OPTACOM輪廓粗糙度儀采用金剛石測(cè)針與被測(cè)件接觸掃描，實(shí)現(xiàn)被測(cè)件表面的坐標(biāo)軌跡測(cè)量，獲得原始數(shù)據(jù)，利用彈性支承結(jié)構(gòu)和電感式傳感器、自編的專用軟件、微電子技術(shù)通過計(jì)算機(jī)最終實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)計(jì)算、操作控制、綜合分析、計(jì)算、處理，達(dá)到粗糙度和輪廓形狀的相關(guān)參數(shù)測(cè)定，對(duì)測(cè)定結(jié)果進(jìn)行數(shù)據(jù)和圖像顯示、存儲(chǔ)、打印輸出和發(fā)送。
OPTACOM輪廓粗糙度儀采用光機(jī)電算結(jié)合達(dá)到驅(qū)動(dòng)箱上下有控自動(dòng)移動(dòng)，觸針可根據(jù)與被測(cè)件的接近程度快速和慢速變化左右移動(dòng)速度實(shí)現(xiàn)接觸定位，按程序操作保證觸針不受沖擊傷害。
OPTACOM輪廓粗糙度儀檢測(cè)校正流程：
1.在粗糙度測(cè)量畫面中，單擊菜單的“校正”并選擇其中的“校正”，按校正步驟進(jìn)行校正。
2.選擇探針為“通常使用的探針”→選擇校正方法為“利用標(biāo)準(zhǔn)片校正”→校正條件的標(biāo)準(zhǔn)值設(shè)定為標(biāo)準(zhǔn)片上的值3.21um，校正倍率選±128um→將標(biāo)準(zhǔn)片放置在水平調(diào)整臺(tái)上→執(zhí)行校正測(cè)量條件的設(shè)定：?jiǎn)螕?ldquo;編輯”，選擇“基本條件”，測(cè)量速度選0.300mm/s，移動(dòng)返回速度6.000mm/s，測(cè)量長(zhǎng)度5λ，單擊濾波器，勾選“使λs有效”，“比”設(shè)300，波長(zhǎng)設(shè)0.8mm，單擊去除形狀，選擇小二乘直線，確定并執(zhí)行測(cè)量。
3.移動(dòng)測(cè)針至下圖位置，點(diǎn)擊測(cè)量，將測(cè)量值與標(biāo)準(zhǔn)塊標(biāo)識(shí)的值進(jìn)行對(duì)比，差值在±5%之內(nèi)即為測(cè)針可用。如果大于±5%，需分析測(cè)量出的曲線圖（縱橫放大倍率分別為2萬和2千倍），觀察波峰波、谷是否清楚，波峰是否尖銳，否則表示測(cè)針磨損或損壞。